我校拟对一套四探针测量仪公开招标采购，详细技术要求如下：

    使用目的：为了测量各种薄膜和半导体材料的方块电阻率、方块电阻、电导率和电阻ZAO薄膜是一种很好的透明导电薄膜，它的光学特性和电学特性，使它在很多方面都有了广泛的应用。其导电性能要通过四探针测量仪测量其面电阻确定，透光性可通过分光光度计来测量。由于实验室和课题组的需要，需要购买一套测量薄膜电阻率和薄膜方块电阻的设备，即四探针测量仪，下面是一些技术指标：

1） 测量范围：电阻率：10^-4～10⁵ Ω.cm；  
                   方块电阻：10^-3～10⁶ Ω/□；
                   电导率：10^-5～10⁴ s/cm；
                   电阻：10^-4～10⁵ Ω；

2）电流量程可在1μA到100mA之间可调；

3）四探针探头基本指标：间距：1±0.01mm；
                           针间绝缘电阻：≥1000MΩ；
                           机械游移率：≤0.3%；
                           探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm；
                           探针压力：5～16 牛顿(总力)；

4）测量精度：≤±0.5%渎值±2个字；

5）探针之间的距离：1±0.01mm；

6）数字电压表量程：0—199.9mV 灵敏度：100μV 输入阻抗：1000ΜΩ
基本误差为：0.4-0.5%读数+0.1%满度

7）探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm；

8）计算机，打印机；

9）测量结果不受气候条件的影响。

    欢迎有投标意向的厂家或商家，携带有关资质证明复印件和招标费用到我校国资处设备科报名。

    报名截止日期：20010年11月11日下午4时

    报名地点：新利登录,（中国）科技公司未央校区行政楼501室

    联系电话：86173142

    联系人：李老师，陈老师，朱老师

                            新利登录,（中国）科技公司国资处

                            2010年11月1日